Atomspēku mikroskops
From Wikipedia, the free encyclopedia
Atomspēku mikroskops (angļu: AFM, atomic force microscope) ir speciāla veida skenējošais mikroskops (SPM), kas tika izgudrots 1986. gadā. Ar šo mikroskopu attēlu iegūst pa punktiem, vienu attēla punktu laika vienībā.