Atomspēku mikroskops
From Wikipedia, the free encyclopedia
From Wikipedia, the free encyclopedia
Atomspēku mikroskops (angļu: AFM, atomic force microscope) ir speciāla veida skenējošais mikroskops (SPM), kas tika izgudrots 1986. gadā. Ar šo mikroskopu attēlu iegūst pa punktiem, vienu attēla punktu laika vienībā.
AFM sistēma sastāv no:
Skeneris var būt sasaistīts vai nu ar apskatāmo paraugu (paraugs kustās zem adatas), vai arī ar sviru (adata kustas virs parauga).
Svira darbojas kā plakana atspere, un to ir iespējams izgatavot pietiekami mīkstu, lai tā spētu atliekties starpmolekulāro spēku iedarbībā. Šo atliekšanos parasti mēra, lietojot lāzera stara atstarošanos no sviras augšējās virsmas.
X un Y ass virzienos skeneris "zīmē" rakstu, kas sastāv no daudzām paralēlām līnijām, taču Z ass virzienā (uz augšu un leju), to vai nu atstāj konstantā augstumā (konstantā augstuma metode), vai arī kustina uz augšu un leju pēc fotodiodes signāla, lai noturētu to pēc iespējas konstantu (konstantā spēka metode).
Adatas un parauga virsmas savstarpējie iedarbības spēki parasti ir van der Vālsa spēki, taču var būt arī elektrostatiskā vai magnētiskā pievilkšanās, ķīmiskā adhēzija, vai arī kādi citi spēki. Metodes, kurās uz adatu bez van der Vālsa spēkiem iedarbojas citu savstarpējo iedarbību spēki, parasti nodala atsevišķi. Ir pazīstamas divas virsmas detektēšanas metodes: kontaktmetode (contact mode) un dinamiskā kontakta metode (dynamic contact mode).
Atšķirībā no optiskā mikroskopa, AFM izšķirtspēja nav atkarīga no gaismas difrakcijas, bet tikai no adatas gala un parauga savstarpējās iedarbības tilpuma. Optiskajā mikroskopā visu attēlu iegūst praktiski acumirklī, AFM nākas noskenēt visus punktus, un tam vajag laiku (svirai ir masa), parasti vairākas minūtes.
Atšķirībā no SEM, AFM darbībai nav nepieciešams vakuums, tas var darboties arī gaisā vai šķidrumā.
AFM ir mazs maksimālais iegūstamā attēla izmērs, to nosaka skenera iespējas. Parasti X un Y ass virzienos tas ir ≈100 um, bet Z ass virzienā - drusku zem 10 um. AFM iegūst 3D datus par virsmas reljefu, atšķirībā no optiskā un elektronu mikroskopa, kas iegūst tikai virsmas projekciju.
AFM izšķirtspēja X un Y asu virzienos ir atkarīga no adatas asuma. Parasti adatas galu veido kā konusu vai piramīdu, kam virsotnes vietā ir lodveida virsma, un adatas asumu raksturo ar tās lodes rādiusu, tas parasti ir 5-30 nm. Dažām adatām galā ir šaura tieva struktūra (spike), ar mazākiem izmēriem. Tā ir trausla, un to var viegli nolauzt, taču ar to var panākt XY (lateral) izšķirtspējas līdz 1nm. Ja parauga virsmai nav asu kritumu vai kāpumu, augstas izšķirtspējas var sasniegt arī ar mazāk asu adatu, ja tā ir homogēna. AFM izšķirtspēja Z ass virzienā ir atkarīga no optiskā detektora izšķirtspējas uz Z skenera DAC (ciparanalogu pārveidotāja) stabilitātes (atkārtojamības), parasti šī izšķirtspēja ir augstāka par 100pm (šajā virzienā var izšķirt attālumus, kas mazāki par atoma diametru).
Seamless Wikipedia browsing. On steroids.
Every time you click a link to Wikipedia, Wiktionary or Wikiquote in your browser's search results, it will show the modern Wikiwand interface.
Wikiwand extension is a five stars, simple, with minimum permission required to keep your browsing private, safe and transparent.