From Wikipedia, the free encyclopedia
Microscopul de forță atomică (AFM, din engleză Atomic force microscopy) este un tip de microscop cu rezoluție foarte înaltă, sub un nanometru.[1] Informația este preluată ca urmare a „atingerii” probei cu un element mecanic, precum piezoelectric. AFM permite determinarea proprietăților topografice, magnetice, chimice, optice și mecanice de la suprafața unei probe în aer, lichide sau la vid ultra-înalt.[2]
Seamless Wikipedia browsing. On steroids.
Every time you click a link to Wikipedia, Wiktionary or Wikiquote in your browser's search results, it will show the modern Wikiwand interface.
Wikiwand extension is a five stars, simple, with minimum permission required to keep your browsing private, safe and transparent.