எக்சுக்கதிர் உமிழ்வு கதிர்நிரல் பதிப்பி

எக்சுக்கதிர் உமிழ்வு கதிர்நிரல் பதிப்பி (X - ray emission spectroscopy) என்பது எக்சுக்கதிர் கதிர்நிரல் பதிப்பியின் ஒரு வடிவமாகும் , இதில் எக்சுக்கதிரின் கதிர்நிரல் வரிகள் , எக்சுக்கதிர் வரி ஆற்றல், அதன் கிளை விகிதங்களின் மீது வேதியியல் சூழலின் தாக்கத்தை பகுப்பாய்வு செய்யபோதுமான சிறப்பு பிரிதிறனுடன் அளக்கப்படுகின்றன. இது மின்னன்களை அவற்றின் கூட்டிலிருந்து வெளியேறும் படி கிளரச் செய்து, மீளிணையும் மின்னன்களில் இருந்து உமிழப்படும் ஒளியன்களைக் கணித்து செய்யப்படுகிறது.

படம்.1: கே-பீட்டா முதன்மை வரியும் வி 2 சியும்

பல வகையான XES அமைப்புகள் உள்ளன. அவற்றில் ஒருவகை, ஒத்ததிர்வு அல்லாத XES (XES) எனப்படும், இவ்வகையில் ${\displaystyle K_{\beta }}$- அளவீடுகளும் இணைதிறம் முதல் அகடு வரையிலான (VtC/V2C) - அளவீடுகளும் மேலும் (${\displaystyle K_{\alpha }}$)- அளவீடுகளும் அடங்கும்; மற்றொரு வகை, ஒத்ததிர்வு XES (RXES அல்லது RIXS) எனப்படும்;, இதில் XXAS+XES 2d-அளவீடு, உயர் பிரிதிறன் XAS, 2p3d RIXS, இணைந்த மொசாபவுர் XES- அள்விடுகள் ஆகியவை அடங்கும்.^[1] கூடுதலாக, மென் எக்சுக்கதிர் உமிழ்வு கதிர்நிரல் பதிப்பி (SXES) பொருட்களின் மின்னன் அமைப்பைத்தீர்மானிக்க பயன்படுத்தப்படுகிறது.

வரலாறு

முதல் XES சோதனைகள் 1924 இல் இலிந்து, இலந்துகிசுட்டு ஆகியோரால் வெளியிடப்பட்டன^[2]

படம்.2: ஆற்றல் நிலை வரைபடம் கே-வரிகள்

மேலும் காண்க

• எக்ஸ்ரே உறிஞ்சுதல் கதிர்நிரல் பதிப்பி