光学分辨率

光学分辨率^[1]是用来描述光学成像系统解析物体细节的能力。

最为世人所接受的分辨率准则是由英国瑞利爵士所提出的瑞利判别准则（Rayleigh criterion），当两个等强度且不相干的光狭缝亮纹互相靠近而快要重叠时，两者的光强度叠加之后，中心处亮暗纹的光强度比最亮处的光强度小一些，减小成为约 81% （${\displaystyle {\frac {8}{\pi ^{2}}}\approx 81.14\%}$），如此，恰好可以判断出来是来自于两个不同的光狭缝。^[1]

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• 角分辨率
• 平方米每像素
• 分辨率
• 1951 USAF分辨力测试图
• 最小可分辨反差（英语：Minimum resolvable contrast）
• Siemens star（英语：Siemens star）
• Superlens（英语：Superlens）
• 超分辨率影像（英语：Super-resolution imaging）