ATPG

自动测试图样产生（英语：Automatic test pattern generation, ATPG）系统是一种工具，可以产生数字电路测试所需的输入信号，自动测试设备可以利用此信号确认电路行为，进而判断电路是否损坏。

超大规模集成电路的测试平台，要达到非常高的错误涵盖率是非常困难的工作，因为它的复杂度很高。 针对组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑电路（Sequential logic）的电路测试，必须要使用不同的 ATPG 方法。

参见

• 可测试性设计
• 故障模式（英语：Fault model）
• 特殊应用集成电路
• 超高速集成电路