干涉測量術
干涉測量術 / 維基百科,自由的 encyclopedia
干涉測量術[1][2](英語:interferometry)又稱干涉量度學,簡稱干涉術、干涉法,是通過由波的疊加(通常為電磁波)引起的干涉現象來獲取信息的技術[3];其將載有被測物信息的探測光與參考光干涉,形成空域或者時域干涉條紋,從而實現光傳感、光學計量和各種光學測試技術。例如:進行精密距離和時間的測量。
干涉術這項技術對於天文學、光纖、工程計量、光學計量、海洋學、地震學、光譜學及其在化學中的應用、量子力學、核物理學、粒子物理學、 等離子體物理學、遙感、生物分子間的相互作用(英語:Interactome)、表面輪廓分析、微流控、應力與應變的測量、測速以及驗光等領域的研究都非常重要。[4]:1–2
干涉儀(interferometer)廣泛應用於科學研究和工業生產中對微小位移、折射率以及表面平整度的測量。在干涉儀中,從單個光源發出的光會分為兩束,經不同光路(英語:Optical path),最終交匯產生干涉。所產生的干涉圖紋能夠反映兩束光的光程差。在科學分析中,干涉儀用於測量長度以及光學元件的形狀,精度能到納米級。它們是現有精度最高的長度測量儀器。在傅里葉變換光譜學中,干涉儀用於分析包含與物質相互作用發生吸收或散射信息的光。天文學干涉儀(英語:astronomical interferometer)由兩個及以上的望遠鏡組成,它們的信號匯合在一起,結果的分辨率與直徑為元件間最大間距的望遠鏡的相同。