相襯顯微技術
維基百科,自由的 encyclopedia
相襯顯微技術是一種光學顯微技術,光線在穿過透明的樣品時會產生微小的相位差,而這個相位差可以被轉換為圖象中的振幅或對比度的變化,這樣就可以利用相位差來成像。
光線在穿過非真空介質時,會與介質發生作用從而產生振幅和相位的變化,這種變化與介質的性質相關。振幅的變化通常是由於介質對光的吸收,變化程度與波長也就是光的顏色相關,而介質的厚度、折射率的變化會導致光線相位的改變。人的眼睛僅能測量到達視網膜的光線的能量強度,而很難觀察到相位的改變,普通的光學顯微鏡也無法檢測相位的改變。然而相位的變化通常也會攜帶相當多的信息,但是在對光線進行測量的時候這部分信息就全部丟棄了。為了使相位變化的信息可以被觀察到,就需要將穿過樣品的光線與參考光源相結合,相干的結果可以顯示出樣品的相位結構。