全內角反射螢光顯微鏡

全內角反射螢光顯微鏡（total internal reflection fluorescent microscope，TIRFM），利用光線全反射後在介質另一面產生衰逝波的特性，激發螢光分子以觀察螢光標定樣品的極薄區域，觀測的動態範圍通常在200nm以下。因為激發光呈指數衰減的特性，只有極靠近全反射面的樣本區域會產生螢光反射，大大降低了背景光雜訊干擾觀測標的，故此項技術廣泛應用於細胞表面物質的動態觀察以及動態單分子螢光成像。

(Cis-)全內反射螢光顯微鏡 (TIRFM) 圖

1. 樣品
2. 損耗波範圍
3. 蓋玻片
4. 浸油
5. 物鏡
6. 發射光束（信號）
7. 激發光束

全反射螢光顯微鏡的激發方式分為物鏡式（Cis）和稜鏡式(Trans)。在物鏡式顯微鏡中，激發光束直接穿過物鏡並在蓋玻片/樣品交界處發生全反射。而在稜鏡式顯微鏡中，激發光束通過稜鏡折射在稜鏡/樣品交界處發生全反射。雖然物鏡式顯微鏡因為激發光束與發射光束光路接近的原因通常有更低的信噪比，但相比與稜鏡式激發範圍更可控（僅限於視場）。因此物鏡式的應用更加廣泛。

(Trans-)全內反射螢光顯微鏡 (TIRFM) 圖

1. 物鏡
2. 發射光束（信號）
3. 浸油
4. 蓋玻片
5. 樣品
6. 損耗波範圍
7. 激發光束
8. 稜鏡