彼得·B·赫希爵士 FRS (英語:Sir Peter Bernhard Hirsch,1925年1月16日—),英國材料科學家,對電子顯微鏡的發展作出了根本性貢獻。[1]
生平
赫希畢業於Sloane School以及劍橋大學聖嘉芙蓮學院。1946年他加入卡文迪許實驗室的晶體部門。後來,他對於煤炭結構的分析做出了重要貢獻。
在1950年代他創新地將透無線電子顯微鏡 (TEM)應用於金屬,發展了詳細的掃描技術理論。在1965年他和Archibald Howie, M.J. Whelan, Pashley and Nicholson,發表了晶體電子顯微的文章。[2]
後來赫希在牛津大學任講席教授,1992年退休。他創建了牛津大學的材料科學系。
因為他促進電子顯微鏡的發展,以研究晶體物質的結構,赫希1983年獲沃爾夫物理學獎。1963年當選皇家學會院士,1975年封為騎士。赫希也是牛津大學聖艾德蒙學堂成員之一。
參考
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