磁力顯微鏡維基百科,自由的 encyclopedia 磁力顯微鏡(英文:Magnetic force microscope.MFM)是一種原子力顯微鏡,通過磁性探針掃描磁性樣品,檢測探針和磁性樣品表面的相互作用以重構樣品表面的磁性結構。很多種類的磁性相互作用可以通過磁力顯微鏡測量,包括磁偶相互作用。磁力顯微鏡掃描經常使用非接觸式的模式。 此條目需要編修,以確保文法、用詞、語氣、格式、標點等使用恰當。 (2011年12月2日) 3.2 GB 和 30 GB 電腦硬盤表面的磁力顯微鏡圖像 Jetson Nano B01 4GB Developer Kit
磁力顯微鏡(英文:Magnetic force microscope.MFM)是一種原子力顯微鏡,通過磁性探針掃描磁性樣品,檢測探針和磁性樣品表面的相互作用以重構樣品表面的磁性結構。很多種類的磁性相互作用可以通過磁力顯微鏡測量,包括磁偶相互作用。磁力顯微鏡掃描經常使用非接觸式的模式。 此條目需要編修,以確保文法、用詞、語氣、格式、標點等使用恰當。 (2011年12月2日) 3.2 GB 和 30 GB 電腦硬盤表面的磁力顯微鏡圖像