低温电子显微镜维基百科,自由的 encyclopedia 低温电子显微技术(英语:Cryogenic electron microscopy,缩写:cryo-EM),是穿透式电子显微镜(TEM)的其中样品在超低温(通常是液氮温度-196℃)下进行型态研究的一种技术[1]。此种仪器一般称为低温电子显微镜(简称:低温电镜)或冷冻电子显微镜(简称:冷冻电镜)[2]。
低温电子显微技术(英语:Cryogenic electron microscopy,缩写:cryo-EM),是穿透式电子显微镜(TEM)的其中样品在超低温(通常是液氮温度-196℃)下进行型态研究的一种技术[1]。此种仪器一般称为低温电子显微镜(简称:低温电镜)或冷冻电子显微镜(简称:冷冻电镜)[2]。