内建自测试
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内建自我测试(built-in self-test, BIST)也称为内建测试(built-in test、BIT),是一种让设备可以自我检测的机制,也是可测试性设计的一种实现技术。工程师会为了符合以下需求,在设计时加入内建自测试:
- 高可靠度
- 较低的维修次数
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也可能是因为以下的限制而加入内建自测试:
- 不易联络技术人员维修
- 在制造生产时的测试成本考量。
内建自测试的目的之一是在简化产品复杂度,因此降低成本,并且减少对外部测试设备的依赖程度。内建自测试可以在以下二方面减少成本:
- 减少测试周期的时间
- 减少在测试时需要驱动或是检测的信号数量,因此减少测试/测试探针设计的复杂度。
两者都可以缩短自动测试设备(ATE)的测试时间。