垂直显像SMI
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垂直显像SMI是1996年在SMI与SPDM的基础上开发出来的,能在奈米等级上最快分析完整的3D细胞结构的光学显微镜,有效的奈米级光学分辨率,在解析2D图像能达到5 nm,而在解析3D图像能达到40 nm,所以比起以Abbe定律所算出来的物理极限200 nm还要更佳。[1] 恩斯特·阿贝在1873年提出理论上光学显微镜的分辨率限制假说。
垂直显像SMI光学显微镜是由海德堡大学光学应用与资讯处理博士克里斯托夫克勒梅(英语:Christoph Cremer)所开发出来,集结了定位光学显微镜(光学间距精密显微镜SPDM, Spectral Precision Distance Microscopy)结构照明设备(空间调整照明设备SMI, Spatially Modulated Illumination)的科技。
自从2008年3月起,许多标准的萤光染剂像是绿色荧光蛋白(GFP)与Alexa萤光染剂可以应用在SPDMphymod (可物理修饰萤光团physically modifiable fluorophores)定位光学显微镜上,这种显微镜只有单一激光波长才有适合的光强度能用在奈米图解上。