静电力显微镜维基百科,自由的 encyclopedia 静电力显微镜(英语:Electrostatic Force Microscopy,简称EFM)是一种利用测量探针与样品的静电相互作用,来表征样品表面静电势能,电荷分布以及电荷输运的[扫描探针显微镜]。