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偏振測量
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偏振測量是一種測量並呈現橫波偏振的方法,尤其是用於電磁波。典型的偏振測量是通過分析目標材料所透過、反射、折射乃至衍射的電磁波來描述該物體的種種特性。[1][2]

應用
橢圓偏振技術,常用於薄膜或平面的偏振測量。
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參考
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偏振測量是一種測量並呈現橫波偏振的方法,尤其是用於電磁波。典型的偏振測量是通過分析目標材料所透過、反射、折射乃至衍射的電磁波來描述該物體的種種特性。[1][2]
橢圓偏振技術,常用於薄膜或平面的偏振測量。
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