單粒子翻轉

單粒子翻轉英文縮寫SEU（Single-Event Upsets），航太電子學術語，原因是在太空環境下存在著大量高能帶電粒子，計算機中的CMOS電子元器件受到地球磁場、宇宙射線等照射，引起電位狀態的跳變，「0」變成「1」，或者「1」變成「0」，但一般不會造成器件的物理性損傷。

2008年10月7日，澳洲航空72號班機在飛行期間突然無預警向下俯衝，使這架空中巴士A330近乎墜毀，事故原因被認為可能是其飛行計算機發生單粒子翻轉故障^[1]。

單粒子翻轉指標用單粒子翻轉率來描述，單粒子翻轉率是器件每天每位發生單粒子翻轉的概率，計算質子單粒子翻轉率的一般性公式：

${\displaystyle R_{p}=\int _{E_{0}}^{\infty }\sigma _{p}(E)\varphi (E)\,dE(SEU/bit\cdot d)}$ 其中：${\displaystyle E_{0}}$為閾值能量，單位MeV；${\displaystyle \sigma _{p}(E)}$為質子單粒子翻轉截面積，單位${\displaystyle cm^{2}/bit}$；${\displaystyle \varphi (E)}$為質子微分流量。