統計過程控制

統計流程管理（Statistical process control，縮寫SPC）是品質管理的一種方法，該方法採用管制圖統計方法來監測和管理相關流程，以助於確保流程高效運行，生產出更多符合規範的產品，減少浪費（返工或報廢）。統計流程管理可以應用於可以測量「合格產品」（符合規格的產品）輸出的任何過程。 關鍵工具包括趨勢圖、控制圖，對持續改進的關注以及實驗設計。當代生產線中已在運用統計過程控制。美國貝爾實驗室科學家沃特·安德魯·休哈特是該過程的發明者。

管制圖的例子，在微電子晶圓製程（英語：Wafer fabrication）中追蹤ICP電漿蝕刻（英語：Plasma etching）的蝕刻率。在時間序列資料中也標示平均值以及其±5%的上下限。更複雜的管制圖會再標示管制界限（control limit）和規格界限（spec limit），以說明需進行的對策。