低温电子显微镜維基百科,自由的 encyclopedia 低温电子显微技術(英語:Cryogenic electron microscopy,缩写:cryo-EM),是穿透式电子显微镜(TEM)的其中样品在超低温(通常是液氮温度-196℃)下进行型態研究的一种技术[1]。此種儀器一般稱為低温电子显微镜(簡稱:低溫電鏡)或冷凍電子顯微鏡(簡稱:冷凍電鏡)[2]。
低温电子显微技術(英語:Cryogenic electron microscopy,缩写:cryo-EM),是穿透式电子显微镜(TEM)的其中样品在超低温(通常是液氮温度-196℃)下进行型態研究的一种技术[1]。此種儀器一般稱為低温电子显微镜(簡稱:低溫電鏡)或冷凍電子顯微鏡(簡稱:冷凍電鏡)[2]。