Transmisní elektronový mikroskop
From Wikipedia, the free encyclopedia
Transmisní elektronový mikroskop (TEM) je elektronový mikroskop umožňující zobrazení a měření strukturních, chemických a mechanických vlastností látek až na atomární úrovni. Na rozdíl od světelného mikroskopu nevyužívá k pozorování viditelného světla ale urychlených elektronů. Na rozdíl od skenovacího elektronového mikroskopu (SEM), který primárně mapuje povrchu vzorku, TEM vzorek prosvěcí a přináší tak informaci z jeho objemu.
Oproti maximálnímu efektivnímu zvětšení světelného mikroskopu (řádově 1000×) poskytuje TEM zvětšení výrazně vyšší (řádově 1 000 000×). Taková úroveň detailu umožňuje např. u krystalických materiálů zobrazení krystalové struktury a jejích poruch. Spolu s elektronovou difrakcí a případnými doplňkovými analytickými metodami umožňuje TEM ve vzorku změřit např. rozložení výskytu chemických prvků, parametrů krystalové mřížky, mechanického napětí nebo orientace krystalických zrn. Tím přispívá k pochopení vlastností a jevů určujících makroskopické chování materiálů. Své využití nachází TEM i při studiu biologických materiálů.
Česká republika patří ke světové špičce jak ve výrobě elektronových mikroskopů, tak v oblasti související vědy a výzkumu.