High Temperature Operating Life
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High Temperature Operating Life (HTOL, engl.) ist ein Zuverlässigkeitstest in der Halbleiter- bzw. Mikroelektronik. Dabei werden die Halbleiterbauelemente und auch -schaltungen werden während des Testes höherer Spannung und höheren Temperatur ausgesetzt.
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Manchmal wird HTOL in Begriff mit „Lifetime Test“, „Device Life Test“ oder „Extended Burn in Test“ zusammengebracht.[1][2][3][4]