Темнопольная микроскопия
Материал из Википедии — свободной encyclopedia
Темнопо́льная микроскопи́я — вид оптической микроскопии, в которой контраст изображения увеличивают за счет регистрации только света, рассеянного изучаемым образцом. При использовании метода темного поля регистрируются даже незначительные различия в преломляющей способности участков препарата[1]. Основы метода разработаны Р. Зигмонди в 1906 году.