雷射誘導擊穿光譜

雷射誘導擊穿光譜（英語：Laser-induced breakdown spectroscopy，LIBS) 技術通過超短脈衝雷射聚焦樣品表面形成電漿，進而對電漿發射光譜進行分析以確定樣品的物質成分及含量^[1][2]。超短脈衝雷射聚焦後能量密度較高，可以將任何物態（固態、液態、氣態）的樣品激發形成電漿，LIBS技術（原則上）可以分析任何物態的樣品，僅受到雷射的功率以及攝譜儀＆檢測器的靈敏度和波長範圍的限制。再者，幾乎所有的元素被激發形成電漿後都會發出特徵譜線，因此，LIBS可以分析大多數的元素。如果要分析的材料的成分是已知的，LIBS可用於評估每個構成元素的相對豐度，或監測雜質的存在。在實踐中，檢測極限是：a）電漿激發溫度（英語：Excitation temperature）的函數，b）光收集窗口，以及c）所觀查的過渡譜線的強度。LIBS利用光學發射光譜，並且是該程度非常類似於電弧/火花發射光譜。

「laser」的各地常用譯名
中國大陸	激光
香港	激光、雷射、鐳射
星馬	激光、鐳射、雷射
臺灣	雷射、鐳射

LIBS系統示意圖

LIBS在技術上是非常相似的一些其它基於雷射的分析技術，共享許多相同的硬體。這些技術是拉曼光譜學的振動光譜技術，雷射誘導螢光（英語：Laser-induced fluorescence）（LIF）的螢光光譜技術。實際上，現在設備已經被製造成在單個儀器中結合這些技術，允許樣品原子的，分子的和結構的特徵研究，以給予物理性質的一個更深入的了解。

硬體構成

1064nm Nd:YAG脈衝雷射器，脈寬約為10ns，經聚焦後能量密度達到1GW/cm²。

光譜儀包括分光部分和光電轉換模塊。

參閱

• 光譜學
• 拉曼光譜學
• 雷射誘導螢光（英語：Laser-induced fluorescence）
• 雷射燒蝕（英語：Laser ablation）